XAFS2300型X射线吸收精细结构谱仪
X射线吸收精细结构谱仪是同步辐射试验的补充和延伸，是不依赖于同步辐射实验室级别XAFS与XES测量装置。浩元公司推出实验室用XAFS2300型X射线吸收精细结构谱仪， 集成高通量连续谱X射线源、 高反射效率弯晶单色器、高分辨率SDD探测器三大核心组件，以及高分辨罗兰圆转角控制技术，在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构精确测量(XAFS)，完成对元素的配位数、键长、化学价态和配位构型等分析。此外，该设备还能够进行X射线发射谱测试(XES)，其本质上是超高能量分辨率的X射线荧光光谱，实现元素自旋态与类似中子临近配位元素物种精确测定。
XAFS模式与同步辐射的数据质量对比
Cu foil晶体结构
性能、技术参数：
X射线功率达到3KW,光通量大于2×106 photons/sec. (7-20keV), 具备透射模式与荧光模式X射线吸收精细结构谱（XAFS）及X射线发射谱(XES)测量功能。
能量范围：4.5-20keV，能量分辨率0.5-1.5eV；重复性：<30meV 能量尺度漂移，单色仪无需重复校准；采用高分辨罗兰环结构与球形弯曲X射线单色器；高分辨率SDD检测器。能够完成1%含量实际样品测量。
XAFS荧光模式实现1%低含量单原子催化剂体系测试
1% Cu CuN4-C单原子催化剂
XAFS在碳中和高效CO2转化能源催化材料结构精准物质结构分析应用
电解水制氢OER 氢燃料电池ORR电催化原位结构与价态动态演变探测 |
具有Fe-S Fe-O混合配位FeN2S2@介孔C及其反应中间态精准结构探测解析可视化与不同配位层路径贡献 | |
1% Fe FeN4-C单原子催化剂一整套包括 E R空间解析 R k空间拟合以及相应三维小波变换 3D WT-XAFS (d-g) Fe K edge wavelet transform of Fe foil,Fe2O3, Fe Pc, and Fe SAC (FeN4) |
COF前驱体策略构筑同核双单原子Fe2N6合成过程加热原位结构演变精准探测解析与可视化 | |
COF前驱体策略构筑同核双单原子Fe2N6合成过程加热原位价态与结构演变精准探测解析与可视化 |
COF前驱体策略构筑同核双单原子Fe2N6合成过程加热原位价态与结构演变精准探测解析与可视化 | |
完整一整套同核双单原子Fe2N6结构解析与拟合 |
高分辨XANES对特定混合配位构型确定 |
应用领域：
在材料科学和工程领域 XAFS方法已成为研究材料的局域原子和电子结构的一种重要表征手段。广泛应用于纳米材料、半导体材料、化学催化材料、生物材料、矿种分析、军工材料等研究，是凝聚态物理等的前沿尖端研究领域未来都是必不可少。
催化：多相催化、单原子催化等：催化剂原子和载体的关系；能源：电池材料、燃料电池催化剂、光合作用、碳捕获、制氢；
材料：掺杂、离子迁移、价态、结构晶型；
环境：有毒元素价态及其在自然界的循环；放射性核素的化学态；
生物：金属蛋白、金属元素的植物吸收/循环。
