晶粒尺寸测定：
　　纳米材料由于颗粒细小,极易形成团粒,采用通常的粒度分析仪往往会给出错误的数据。采用X射线衍射线线宽法(谢乐法)可以精确测定纳米粒子的平均粒径。

推荐：
DX-2700BH　X射线衍射仪
DX-2800　高分辨X射线衍射仪