线性探测器

正比探测器、闪烁探测器

使用时需要配置单色器，有效去掉Kβ线。

最大线性计数：≥5×10⁵CPS。

能谱分辨率：正比≤25%、闪烁≤50%。

半导体阵列探测器

D/HY-2SA型半导体阵列探测器，有效面积14×14mm、像素尺寸50µm、像素数量280×280、每个像素线性计数值不低于3×10⁶。

DX系列衍射仪配置 D/HY-2SA型阵列探测器可以选择使用0D或是1D或是2D测量方式。0D测量方式满足低角度（0°开始）测量需求，1D测量方式实现对样品快速测量，样品测量速度较常规线性探测器提高60倍以上。

同时D/HY-2SA探测器对含有Fe、Co、Ni的样品有较好的峰背比。

2D测量方式用拍照方法获取2θ角4度范围内的衍射环，快速、直观测得环境因素对衍射峰影响的变化趋势。

半导体线阵探测器

探测器MYTHEN2 1D detector 由瑞士 DECTRIS Ltd.生产。

DX系列衍射仪配置MYTHEN2 1D detector后可以选择使用0D或是1D测量方式，0D测量方式满足低角度（0°开始）测量需求，1D测量方式实现对样品快速（36°/分）测量。

由640个硅条组成的一维半导体陈列探测器，能量分辨率687eV、硅条宽度50µm、能量范围4-40keV、每条线性计数率大于1×10⁷，相比传统的闪烁或正比探测器可以提高衍射强度有较大提高，在较短时间内完成衍射谱图测量。

SDD探测器

AXAS-M H150 CUBE Class型SDD探测器，能量分辨率小于300eV，有效窗口面积不小于150mm² ，最大线性计数率大于1.5×10⁵cps。

较常规的正比探测器或是闪烁探测器+单色器样品测量速度提高3-4倍。由于SDD探测器能量分辨率高，能有效除掉样品荧光效应，尤其对含有Fe、Co、Ni等重金属样品更为突出。

Fe2O3样品衍射谱图（a）线性探测器，（b）SDD探测器。